Elektronik Bileşenlerin Kesit Görüntüleri Üzerine Deneyler ve Teknikler

Elektronik bileşenlerin iç yapısını anlamak için kesit görüntüleri almak, mühendislik ve eğitim alanlarında yaygın bir uygulamadır. Bu yöntem, kapasitörler, lehim telleri ve bağlantı terminalleri gibi çeşitli parçaların katmanlarını ve yapısını mikroskop altında incelemeye olanak sağlar. Son dönemde yapılan deneylerde, farklı kapasitörlerin ve diğer bileşenlerin kesit görüntüleri elde edilmiştir.

Kesit Hazırlama Süreci

Kesit görüntüsü elde etmek için öncelikle incelenecek bileşen, epoksi reçine içine yerleştirilir. Bu işlem, bileşenin sabitlenmesini ve kesim sırasında zarar görmemesini sağlar. Epoksinin sertleşme sürecinde hava kabarcıklarının oluşması görüntü kalitesini düşürebileceğinden, vakum pompası kullanımı önerilmektedir. Ancak, deneylerde kullanılan epoksinin kalitesi ve vakum pompasının yokluğu nedeniyle görüntü netliği sınırlı kalmıştır.

Epoksi sertleştikten sonra, bileşenin kesit yüzeyi elde edilmek üzere zımparalanır. Bu aşamada zımpara aşamaları önemlidir; deneylerde P400 ile başlanıp, P800, P1200, P1500, P2000, P3000, P5000, P7000 ve P10000 gibi giderek incelen zımpara taneleri kullanılmıştır. Zımparalama işlemi sırasında, çiziklerin tek yönde olması sağlanmalı, ardından numune döndürülerek daha ince zımparalarla yüzey düzeltilmelidir. Son aşamada elmas tozu veya eşdeğeri bir polisaj malzemesiyle parlatma yapılabilir. Mikroskop altında daha iyi görüntü için numunenin yüzeyinde bir miktar su bırakılması tavsiye edilir.

Ayrıca Bakınız

Robeve ve Torima Taşınabilir Vantilatörleri Karşılaştırması: Hangi Model Sizin İçin Uygun

İki popüler taşınabilir vantilatör olan Robeve ve Torima modellerinin özellikleri, kullanıcı yorumları ve karşılaştırmasıyla, ihtiyaçlarınıza en uygun serinlik çözümünü bulun.

DIY MDA/Hercules Grafik Adaptörü Projesinde Zamanlama ve Ekran Senkronizasyonu Teknikleri

DIY MDA/Hercules grafik adaptörü projesi, karakter tabanlı grafiklerin oluşturulması ve ekran senkronizasyonunun sağlanması için temel elektronik bileşenlerle zamanlama sinyallerinin doğru ayarlanmasını inceliyor.

Herz Full HD Altın Başlıklı ve PolyGold Örgülü HDMI Kabloları Karşılaştırması

Herz ve PolyGold HDMI kablolarını detaylı karşılaştırıyoruz. Her iki ürünün özellikleri, kullanıcı yorumları ve performanslarıyla ilgili bilgiler içerir. Doğru seçim yapmanız için önemli ipuçları sunar.

Nixie Tüp Saat Projesi: Tasarım, Hata Ayıklama ve AliExpress Kaynaklı Bileşenler

Nixie tüp saat projesinde tasarım prensipleri, hata ayıklama süreçleri ve AliExpress'ten temin edilen kitlerin avantajları ile dezavantajları ele alınmaktadır. Mekanik güçlendirme ve nakliye sorunları da incelenmiştir.

Elektronik Bileşenlerin Kesit Görüntüleri: Hazırlama Teknikleri ve İnceleme Yöntemleri

Elektronik bileşenlerin iç yapısını incelemek için epoksi içine yerleştirme, zımparalama ve mikroskopla görüntüleme yöntemleri detaylandırılmıştır. Kesit hazırlama süreci ve gözlemler açıklanmıştır.

Elektronik Projelerde Direnç Stoğu: Değer, Güç ve Çeşitlilik Önemli

Elektronik projelerde direnç stoğu sadece miktar değil, değer çeşitliliği, güç kapasitesi ve tolerans açısından da önemlidir. SMD dirençler ve özel değerler stoklanmalıdır.

Doğrudan Diyot Kullanarak Gerilim Düşürme Yöntemleri ve Uygulama Alanları

Diyotların seri bağlanarak gerilim düşürme yöntemi, basit ve düşük maliyetli çözümler sunar. Ancak değişken gerilim düşüşü, ısınma ve arıza riskleri gibi dezavantajları bulunur. Bu yazıda avantajlar, dezavantajlar ve uygulama örnekleri detaylandırılıyor.

Texas Instruments'ın Dünyanın En Küçük Mikrodenetleyicisi: Küçük Boyutlarda Yüksek Performans

Texas Instruments, 1.6 x 0.861 mm boyutlarında dünyanın en küçük mikrodenetleyicisini tanıttı. Bu cihaz, gömülü sistemlerde alan kısıtlaması olan uygulamalara yüksek performans ve küçük boyut avantajı sunuyor.

İncelenen Bileşenler ve Gözlemler

• 12pF 3kV Kapasitör: Genişlik ve uzunluk boyunca kesitleri alınmıştır. İç yapısında, kapasitör plakalarının çok ince ve sık yerleştirildiği gözlemlenmiştir. İlginç olarak, her plakanın iki ayrı plaka gibi çok yakın konumda olduğu tespit edilmiştir. Bu yapı, yüksek voltaj dayanımı için seri bağlı iki kapasitör gibi düzenlenmiş olabilir.

• 47uF Kapasitör: Yanlış yönlendirilmiş katmanlar nedeniyle damask benzeri bir doku görünümü oluşmuştur. Ancak, plakaların çok ince ve yoğun yerleşimi nedeniyle mikroskop altında detaylar net görülmemiştir.

• Kıvrılmış Terminal: Rastgele bir terminal kesiti alınmıştır. Bu terminal için uygun kablo boyutu ve sıkma kalıbı bilinmemektedir.

• Lehim Teli: Kesitinde lehim teli içindeki flux çekirdeği net olarak görülmüştür. Bu tel, epoksi sertleşirken terminali sabitlemek için kullanılmıştır.

Gerçek değerini yalnızca uzmanların bildiği 10 özel ürün

devamını oku

Mikroskop ve Görüntüleme

Deneylerde Wurth 885342009004 model bir mikroskop kullanılmıştır. Bu mikroskop, yüksek büyütme ve detaylı inceleme için yeterli olmakla birlikte, entegre devrelerin (IC) detaylarını görmek için yetersiz kalmaktadır. Daha gelişmiş mikroskoplar ve uygun örnek hazırlama teknikleri ile PCB üzerindeki gömülü ve kapaklı via detayları gibi daha karmaşık yapılar incelenebilir.

Teknik ve Pratik Notlar

• Zımparalama işlemi, disk zımparalama makineleri veya manuel olarak yapılabilir. Numune epoksi içinde sabitlenmeli, böylece hem parmaklar korunur hem de bileşenin oryantasyonu stabil kalır.

• Zımpara aşamalarında çiziklerin yönü değiştirilerek yüzey düzgünlüğü artırılır.

• Epoksi kalitesi ve vakum pompası kullanımı, hava kabarcıklarını önleyerek görüntü kalitesini artırır.

• Su kullanımı mikroskop altında görüntü netliğini artırır.

İlgili Kaynaklar

Elektronik bileşenlerin kesit görüntüleri ve detaylı incelemeleri için Open Circuits kitabı önerilmektedir. Bu kaynak, öğrenciler ve mühendisler için kapsamlı görsel materyaller sunmaktadır. Ayrıca, Reddit ve YouTube gibi platformlarda benzer deneylerin paylaşıldığı videolar ve tartışmalar bulunmaktadır.

Elektronik bileşenlerin kesit görüntüleri, sadece yapısal bilgi vermekle kalmaz, aynı zamanda üretim teknikleri ve kalite kontrol süreçleri hakkında da önemli ipuçları sunar. Bu nedenle, doğru hazırlık ve görüntüleme teknikleriyle elde edilen kesitler, elektronik mühendisliği alanında değerli bir araçtır.