Elektronik Bileşenlerin Kesit Görüntüleri Üzerine Deneyler ve Teknikler

Elektronik bileşenlerin iç yapısını anlamak için kesit görüntüleri almak, mühendislik ve eğitim alanlarında yaygın bir uygulamadır. Bu yöntem, kapasitörler, lehim telleri ve bağlantı terminalleri gibi çeşitli parçaların katmanlarını ve yapısını mikroskop altında incelemeye olanak sağlar. Son dönemde yapılan deneylerde, farklı kapasitörlerin ve diğer bileşenlerin kesit görüntüleri elde edilmiştir.

Kesit Hazırlama Süreci

Kesit görüntüsü elde etmek için öncelikle incelenecek bileşen, epoksi reçine içine yerleştirilir. Bu işlem, bileşenin sabitlenmesini ve kesim sırasında zarar görmemesini sağlar. Epoksinin sertleşme sürecinde hava kabarcıklarının oluşması görüntü kalitesini düşürebileceğinden, vakum pompası kullanımı önerilmektedir. Ancak, deneylerde kullanılan epoksinin kalitesi ve vakum pompasının yokluğu nedeniyle görüntü netliği sınırlı kalmıştır.

Epoksi sertleştikten sonra, bileşenin kesit yüzeyi elde edilmek üzere zımparalanır. Bu aşamada zımpara aşamaları önemlidir; deneylerde P400 ile başlanıp, P800, P1200, P1500, P2000, P3000, P5000, P7000 ve P10000 gibi giderek incelen zımpara taneleri kullanılmıştır. Zımparalama işlemi sırasında, çiziklerin tek yönde olması sağlanmalı, ardından numune döndürülerek daha ince zımparalarla yüzey düzeltilmelidir. Son aşamada elmas tozu veya eşdeğeri bir polisaj malzemesiyle parlatma yapılabilir. Mikroskop altında daha iyi görüntü için numunenin yüzeyinde bir miktar su bırakılması tavsiye edilir.

Ayrıca Bakınız

Reflow Lehimleme Yöntemi: Avantajları, Uygulama İpuçları ve Dikkat Edilmesi Gerekenler

Reflow lehimleme, elektronik kartlarda hassas bileşenlerin hızlı ve kontrollü şekilde lehimlenmesini sağlar. Lehim pastası, flux kullanımı ve ısıtma teknikleri lehim kalitesini doğrudan etkiler.

MicroPython ile Futaba NAGP1250 Grafiksel VFD Ekran Sürücüsünün Geliştirilmesi ve Kullanımı

Futaba NAGP1250 grafiksel VFD ekran için MicroPython sürücüsü, düşük ışıkta karakteristik yeşil parlaklık sunar. 5V lojik gereksinimi ve detaylı dokümantasyonla elektronik projelerde kullanım kolaylığı sağlar.

1980-1990 Dönemi Analitik Terazilerde Kuvvet Geri Kazanım Sensörleri ve Mekanik Tasarım

1980-1990'larda geliştirilen analitik teraziler, kuvvet geri kazanım sensörleri ve piezoelektrik gerinim ölçerlerle yüksek hassasiyetli tartım sunar. Mekanik ve elektronik bileşenlerin uyumu uzun ömürlü ve güvenilir ölçümler sağlar.

Logitech G25 Direksiyon PCB Onarımı: MOSFET Değişimi ve Koruyucu Diyot Kontrolü

Logitech G25 direksiyonun PCB onarımında MOSFET değişimi, koruyucu diyot kontrolü ve mekanik parça incelemesi kritik öneme sahiptir. Yüksek akım taşıma kapasitesine sahip alternatif bileşenler kullanılarak performans artırılır.

Hobi Elektroniğinde Lehimleme Teknikleri: Malzeme, Ekipman ve Uygulama İpuçları

Hobi elektroniğinde lehimleme, doğru malzeme ve tekniklerle kaliteli bağlantılar sağlar. Eutektik lehim ve reçine bazlı flux kullanımı, uygun sıcaklık ayarı ve düzenli pratikle lehim kalitesi artar.

DigiKey ve ABD Gümrük Tarifelerinin Elektronik Parça Piyasasına Etkileri ve Sonuçları

ABD'nin uyguladığı gümrük tarifeleri, DigiKey gibi distribütörlerin stok fiyatlarını yükseltiyor. Çin menşeli ürünlerde %10-%20 arası tarifeler, tüketici ve işletmelerin maliyetlerini artırıyor.

Entegre Devrelerin Güvenli Saklanması İçin Antistatik Köpük ve ESD Koruma Yöntemleri

Entegre devrelerin statik elektrikten korunarak güvenli saklanması için antistatik köpük kullanımı ve ESD koruma yöntemleri detaylıca ele alınmaktadır. Doğru malzeme seçimi arızaları önler.

MOSFET İnteraktif Simülasyonu ile Elektronik Devrelerin Dinamik Analizi ve Eğitim

Bu interaktif MOSFET simülasyonu, Maxwell denklemleri ve yük taşıyıcı dinamiklerini kullanarak elektronik devrelerin temel çalışma prensiplerini gerçek zamanlı ve görsel olarak sunar.

İncelenen Bileşenler ve Gözlemler

• 12pF 3kV Kapasitör: Genişlik ve uzunluk boyunca kesitleri alınmıştır. İç yapısında, kapasitör plakalarının çok ince ve sık yerleştirildiği gözlemlenmiştir. İlginç olarak, her plakanın iki ayrı plaka gibi çok yakın konumda olduğu tespit edilmiştir. Bu yapı, yüksek voltaj dayanımı için seri bağlı iki kapasitör gibi düzenlenmiş olabilir.

• 47uF Kapasitör: Yanlış yönlendirilmiş katmanlar nedeniyle damask benzeri bir doku görünümü oluşmuştur. Ancak, plakaların çok ince ve yoğun yerleşimi nedeniyle mikroskop altında detaylar net görülmemiştir.

• Kıvrılmış Terminal: Rastgele bir terminal kesiti alınmıştır. Bu terminal için uygun kablo boyutu ve sıkma kalıbı bilinmemektedir.

• Lehim Teli: Kesitinde lehim teli içindeki flux çekirdeği net olarak görülmüştür. Bu tel, epoksi sertleşirken terminali sabitlemek için kullanılmıştır.

Bu 10 ürüne sahip olmak artık bir statü sembolü

devamını oku

Mikroskop ve Görüntüleme

Deneylerde Wurth 885342009004 model bir mikroskop kullanılmıştır. Bu mikroskop, yüksek büyütme ve detaylı inceleme için yeterli olmakla birlikte, entegre devrelerin (IC) detaylarını görmek için yetersiz kalmaktadır. Daha gelişmiş mikroskoplar ve uygun örnek hazırlama teknikleri ile PCB üzerindeki gömülü ve kapaklı via detayları gibi daha karmaşık yapılar incelenebilir.

Teknik ve Pratik Notlar

• Zımparalama işlemi, disk zımparalama makineleri veya manuel olarak yapılabilir. Numune epoksi içinde sabitlenmeli, böylece hem parmaklar korunur hem de bileşenin oryantasyonu stabil kalır.

• Zımpara aşamalarında çiziklerin yönü değiştirilerek yüzey düzgünlüğü artırılır.

• Epoksi kalitesi ve vakum pompası kullanımı, hava kabarcıklarını önleyerek görüntü kalitesini artırır.

• Su kullanımı mikroskop altında görüntü netliğini artırır.

İlgili Kaynaklar

Elektronik bileşenlerin kesit görüntüleri ve detaylı incelemeleri için Open Circuits kitabı önerilmektedir. Bu kaynak, öğrenciler ve mühendisler için kapsamlı görsel materyaller sunmaktadır. Ayrıca, Reddit ve YouTube gibi platformlarda benzer deneylerin paylaşıldığı videolar ve tartışmalar bulunmaktadır.

Elektronik bileşenlerin kesit görüntüleri, sadece yapısal bilgi vermekle kalmaz, aynı zamanda üretim teknikleri ve kalite kontrol süreçleri hakkında da önemli ipuçları sunar. Bu nedenle, doğru hazırlık ve görüntüleme teknikleriyle elde edilen kesitler, elektronik mühendisliği alanında değerli bir araçtır.